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| 展示会名 |
国際ナノテクノロジー展
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| 日時 |
2月15日（水）〜17日（金） |
| 場所 |
国際展示場 東ホール |
| 出展内容 |
非接触表面層断面形状計測システム VertScan2.0 |
| 展示会名 |
理化学・計測機材展
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| 日時 |
3月15日（木）〜18日（日） |
| 場所 |
早稲田大学、早稲田中・高等学校 |
| 出展内容 |
非接触表面層断面形状計測システム VertScan2.0 |
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多くの方にご来場いただき好評のうち終了いたしました。ありがとうございました。
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展示会名
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開催日
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場所 |
来場者数 |
| ネプコンジャパン2012 エレクトロテストジャパン |
1月18日（水）〜20日（金） |
国際展示場 |
84,218名 |
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